【英文标准名称】:Sinteredmetalbushes-Determinationofradialcrushingstrength
【原文标准名称】:烧结金属衬套.径向抗压强度的测定
【标准号】:BSENISO2739-1998
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1998-06-15
【实施或试行日期】:1998-06-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:破碎试验;轴衬(机械元件);金属;机械试验;径向;试验条件;试样;烧结产品;材料强度
【英文主题词】:Breakingstrength;Bushes(mechanicalcomponents);Bushings;Compressiontesting;Mechanicaltesting;Radial;Rings;Sinteredmetals;Sinteredproducts;Testing;Tests
【摘要】:Methodformeasuringtheradialcrushingstrengthofsinteredmetalparts,excludinghardmetals,intheformofhollowcylinderscommonlyknownasbushes.
【中国标准分类号】:H72
【国际标准分类号】:77_040_10;77_160
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则 |
| 英文名称： | Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for the specification of certified reference materials (CRMs) |
| 中标分类： |
仪器、仪表 >>
物质成分分析仪器与环境监测仪器 >>
电化学、热化学、光学式分析仪器 |
| ICS分类： |
|
| 替代情况： | 替代GB/T 4930-1993 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2008-04-11 |
| 实施日期： | 2008-10-01 |
| 首发日期： | 1985-02-06 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 提出单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 中国科学院广州地球化学研究所 |
| 起草人： | 刘永康、万光权、梁细荣、杨秋剑 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2008-07-01 |
| 页数： | 16页 |
| 计划单号： | 20030823-T-491 |
| 书号： | 155066·1-32060 |
适用范围
本标准给出了用于电子探针分析的单相标样，并规定了标样仅应用在平整抛光表面的显微分析中。本标准不包括有机物和生物标样。本标准等同采用ＩＳＯ１４５９５：２００３《微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则》（英文版）。 本标准代替ＧＢ／Ｔ４９３０—１９９３《电子探针分析标准样品通用技术条件》，因为国际上的发展原标准在技术上已不适用。
本标准对ＧＢ／Ｔ４９３０—１９９３进行了全面修改：
———标题：将ＧＢ／Ｔ４９３０—１９９３原标题“电子探针分析标准样品通用技术条件”改为“微束分析电子探针分析 标准样品技术条件导则”；
———所有技术条文的项目、内容、结构顺序都作了变动，运用的技术方法更先进，更合理；
———标样材料不均匀性检测及其数据统计处理改用美国国家标准技术研究院（ＮＩＳＴ）和英国国家物理实验室（ＮＰＬ）共同研制的检测和统计方法；
———将标样分级的概念引入本标准，使制作和应用标样的领域扩大，更合理，更全面。
前言
没有内容
目录
前言Ⅲ
引言Ⅳ
1 范围1
2 规范性引用文件1
3 术语和定义1
4 研究材料的制备1
5 材料的不均匀性2
6 研究材料的稳定性6
7 标样化学成分的测定7
8 标样试样的制备、包装、运输和储存7
9 标样证书7
附录A (资料性附录) 不均匀性数据统计评价计算过程示例9
附录B (规范性附录) 推荐的电子探针分析用标样分级11
附录C (资料性附录) 电子探针分析标样证书范例12
参考文献13
引用标准
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
ISO 导则31:2000 标准物质 认证内容和标示(ISO Guide31:2000,Referencematerials-Contentsofcertificatesandlabel)
所属分类： 仪器 仪表 物质成分分析仪器与环境监测仪器 电化学 热化学 光学式分析仪器
Product Code:SAE J1752/1
Title:Electromagnetic Compatibility Measurement Procedures for Integrated Circuits - Integrated Circuit EMC Measurement Procedures - General and Definitions
Issuing Committee:Electromagnetic Compatibility (Emc) Standards
Scope: ScopeThis SAE Recommended Practice provides supporting information for the emission and immunity measurement procedures defined in the SAE J1752 series of documents.
Rationale: ScopeThis SAE Recommended Practice provides supporting information for the emission and immunity measurement procedures defined in the SAE J1752 series of documents.