ANSI C78.1d-1988 快速启动型荧光灯.附加C型资料:额定功率指南设计(ANSIC78.1-1991的补充)
时间:2024-05-14 08:05:11 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9711
【英文标准名称】:FluorescentLamps-RapidStartTypes-AppendixCInformation:DevelopmentofGuidelinesforRatedWattage
【原文标准名称】:快速启动型荧光灯.附加C型资料:额定功率指南设计(ANSIC78.1-1991的补充)
【标准号】:ANSIC78.1d-1988
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
【英文标准名称】:Testingoflubricants-Tribologicaltestintranslatoryoscillationapparatus-Part3:Determinationoftribologicalbehaviourofmaterialsinco-operationwithlubricants
【原文标准名称】:润滑剂检验.移动式振动检验仪摩擦检验.第3部分:与润滑剂联合使用的材料摩擦特性测定
【标准号】:DIN51834-3-2001
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2001-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:振荡;摩擦学;润滑脂;工作原理;试验设备;摩擦;润滑剂;试验;磨损;材料试验;试验装置
【英文主题词】:Friction;Grease;Lubricants;Materialstesting;Oscillations;Testequipment;Testing;Testingdevices;Tribology;Wear;Workingprinciples
【摘要】:Thedocumentspecifiesamethodforthedeterminationoftribologicalbehaviourofmaterialsincooperationwithlubricants.
【中国标准分类号】:E34
【国际标准分类号】:75_100
【页数】:7P;A4
【正文语种】:德语
【英文标准名称】:Measurementofthermalconductivityofthinfilmsonsiliconsubstrates
【原文标准名称】:硅基质上薄膜导热性的测量
【标准号】:ISO/TTA4-2002
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2002-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Insulations;Materialstesting;Microelectronics;Samples;Silicon;Testing;Thermalconductivity;Thermaltesting;Thickness;Thinfilms;Thin-filmtechnology
【摘要】:1.1Astandardprocedureforthethree-omegamethodisproposedformeasuringthethermalconductivityofathin,electricallyinsulatingfilm,onasubstratehavingathermalconductivitysignificantlygreaterthanthethermalconductivityofthefilm.Thismethodisapplicabletoafilmonasiliconsubstratewiththefollowingcharacteristics:a)thefilmiselectricallyinsulating;b)thefilmhasathermalconductivitythatislessthanonetenththethermalconductivityofsilicon;c)thefilmisuniforminthicknessandthethicknessliesintherange0,25μmto1μm;d)themaximumdimensionsofthefilmarelimitedbythesizesofthepreparationandmeasurementapparatus;e)theminimumdimensionsofthefilmarelimitedbytheminimumsizeofthecircuitelementthatcanbeplacedonthefilmsurface.NOTEAspecimenapproximately15mmby25mmisofanappropriatesizealthoughspecimensassmallas10mm×10mmareusable.1.2Themethodisdirectlyapplicabletofilmsofsilicondioxideonsiliconwafersubstrates.1.3Themethodmaybeapplicabletoinsulatingfilmsonotherhigh-thermalconductivitysubstratesprovidedthattheparametersofthesubstratematerialaresubstitutedfortheparametersofsiliconusedinthismethodandtheassociatedcomputerprogram.1.4Themethodisapplicabletomeasurementsnearroomtemperature.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:17_200_99;19_100;31_080_01
【页数】:19P.;A4
【正文语种】:英语